测量模式是测量硬件的一种工作模式。通常如果测量装置（如 CMU*、VMU*）集成在测试系统中，就可以按测量模式工作。
对于每个测试步骤，测量装置会提供测试点的电流和电压值，从而间接提供有效负载电阻值。该值通过欧姆定律来确定。和比较器模式一样，UIG* 以电流控制或电压控制模式工作。此外，应准确测量相应另一个值，并计算精确负载电阻。这样，将确定的值与编程阈值比较，以便将测试步骤评为通过或失败。
例如，在开路测试中，将提供可编程恒定电流，以测量待测物 (UUT) 的电压降。在短路测试中，发生器将提供恒定电压，以便测量浮动电流。
对于元器件测试，可以在 WEETECH 的一些测试系统中（W 434、W 444、W 454 和 W 454 HV / W 454 SHV）对频率进行编程，以便测量电阻 (R)、电感 (L) 和电容 (C) 组合（参见 RLC 测量）。
比较器模式
实际这不是真实意义上的测量模式，但通过比较已知值（发生器编程电流或电压），可以通过定性方式来确定是否达到目标值。
测量外部电压
外部电压指外部电源的电压，测试时外部电源与待测物相连。在运行功能测试时，通常必须提供外部电压。这些电压的测量由测试系统的 VMU 执行，可能需要这些电压值才能确保待测物完整测试。
*CMU = 电流测量装置
*VMU = 电压测量装置
*UIG = UI 发生器
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